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1 图书 Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy /
责任者 Brydson, Rik

出版信息 RMS-Wiley, ,2011.

ISBN 9780470518519 (hardback) :

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Brydson, Rik.Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy /.RMS-Wiley,,2011..
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Aberration-corrected analytical transmission electron microscopy /

Brydson, Rik.RMS-Wiley,,2011..
2 图书 Progress in transmission electron microscopy /
责任者 Zhang, Xiao-Feng,,Zhang, Ze,

出版信息 Tsinghua University Press ; ,c2001.

ISBN 7-302-03589-X (Tsinghua University Press)

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Zhang, Xiao-Feng,,Zhang, Ze,.Progress in transmission electron microscopy /.Tsinghua University Press ;,c2001..
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Progress in transmission electron microscopy /

Zhang, Xiao-Feng,,Zhang, Ze,.Tsinghua University Press ;,c2001..
3 图书 The chemical applications of transmission electron microscopy
责任者 J. R. Fryer

出版信息 Academic Pr. ,1979

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J. R. Fryer.The chemical applications of transmission electron microscopy.Academic Pr.,1979.
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The chemical applications of transmission electron microscopy

J. R. Fryer.Academic Pr.,1979.
4 图书 Transmission electron microscopy：Physics of image formation and microanalysis
责任者 L. Reimer

出版信息 Springer ,1984

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L. Reimer.Transmission electron microscopy：Physics of image formation and microanalysis.Springer,1984.
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Transmission electron microscopy：Physics of image formation and microanalysis

L. Reimer.Springer,1984.
5 图书 Transmission electron microscopy：Methods of application
责任者 D. K. Racker

出版信息 Charles C Thomas Pub. ,1983

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D. K. Racker.Transmission electron microscopy：Methods of application.Charles C Thomas Pub.,1983.
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Transmission electron microscopy：Methods of application

D. K. Racker.Charles C Thomas Pub.,1983.
6 图书 Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state /
责任者 Andreas Rosenauer.

出版信息 Springer, ,c2003.

ISBN 3-540-00414-9 (alk. paper)

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Andreas Rosenauer..Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state /.Springer,,c2003..
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Transmission electron microscopy of semiconductor nanostructures : an analysis of composition and strain state /

Andreas Rosenauer..Springer,,c2003..
7 图书透射电子显微学
责任者 (美)威廉斯(DavidB.Williams),(美)卡特(C.BarryCarter)著

出版信息高等教育出版社 ,2019

ISBN 978-7-04-052413-0

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(美)威廉斯(DavidB.Williams),(美)卡特(C.BarryCarter)著.透射电子显微学.高等教育出版社,2019.
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透射电子显微学

(美)威廉斯(DavidB.Williams),(美)卡特(C.BarryCarter)著.高等教育出版社,2019.
8 图书 Transmission electron microscopy：a textbook for materials science：材料科学教材 (4卷本)
责任者 David B. Williams, C.Baryy Carter

出版信息清华大学出版社 ,2007

ISBN 978-7-302-15529-4

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David B. Williams, C.Baryy Carter.Transmission electron microscopy：a textbook for materials science：材料科学教材 (4卷本).清华大学出版社,2007.
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Transmission electron microscopy：a textbook for materials science：材料科学教材 (4卷本)

David B. Williams, C.Baryy Carter.清华大学出版社,2007.
9 图书透射电子显微学．上册
责任者 (美) David B. Williams, C. Barry Carter著

出版信息高等教育出版社 ,2015-

ISBN 978-7-04-043150-6

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(美) David B. Williams, C. Barry Carter著.透射电子显微学．上册.高等教育出版社,2015-.
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透射电子显微学．上册

(美) David B. Williams, C. Barry Carter著.高等教育出版社,2015-.
10 图书透射电镜基本原理与应用
责任者陈彬编著

出版信息上海交通大学出版社 ,2025.1

ISBN 978-7-313-30913-6

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陈彬编著.透射电镜基本原理与应用.上海交通大学出版社,2025.1.
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透射电镜基本原理与应用

陈彬编著.上海交通大学出版社,2025.1.

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