检索条件： Tobin, Kenneth W. ( 著者 )

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1 图书 Data analysis and modeling for process control III : 23 February, 2006, San Jose, California, USA /
责任者 Emami, Iraj.,Tobin, Kenneth W.

出版信息 SPIE, ,c2006.

ISBN 0-8194-6198-9 (pbk.)

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Emami, Iraj.,Tobin, Kenneth W..Data analysis and modeling for process control III : 23 February, 2006, San Jose, California, USA /.SPIE,,c2006..
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Data analysis and modeling for process control III : 23 February, 2006, San Jose, California, USA /

Emami, Iraj.,Tobin, Kenneth W..SPIE,,c2006..
2 图书 Data analysis and modeling for process control II : 3-4 March 2005, San Jose, California, USA /
责任者 Emami, Iraj.,Ausschnitt, Christopher P.,Tobin, Kenneth W.

出版信息

ISBN 0-8194-5735-3

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Emami, Iraj.,Ausschnitt, Christopher P.,Tobin, Kenneth W..Data analysis and modeling for process control II : 3-4 March 2005, San Jose, California, USA /.,.
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Data analysis and modeling for process control II : 3-4 March 2005, San Jose, California, USA /

Emami, Iraj.,Ausschnitt, Christopher P.,Tobin, Kenneth W..,.

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