检索条件： Thompson, C. V. ( 著者 )
责任者 Thompson, C. V.,Lloyd, J. R.
出版信息 Cambridge University Press, ,2014.
ISBN 978-1-107-40968-2
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Materials reliability in microelectronics II : symposium held April 27-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A. /
Thompson, C. V.,Lloyd, J. R..Cambridge University Press,,2014..
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