检索条件： Symposium C, CMOS Gate-Stack Scaling-- Materials, Interfaces and Reliability Implications ( 著者 )
责任者 Demkov, Alexander A.
出版信息 Cambridge University Press ,2014
ISBN 978-1-107-40832-6
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CMOS gate-stack scaling-- materials, interfaces and reliability implications: symposium held April 14-16, 2009, San Francisco, california, U.S.A.
Demkov, Alexander A..Cambridge University Press,2014.
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