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1 图书 Interferogram analysis for optical testing /
责任者

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ISBN 2004056966

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.Interferogram analysis for optical testing /.,.
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Interferogram analysis for optical testing /

.,.
2 图书 Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /
责任者 Quiroga, J. Antonio,Padilla, J. Moisés

出版信息

ISBN 9783527411528 (hbk.) :

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Quiroga, J. Antonio,Padilla, J. Moisés.Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /.,.
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http://libopac.nudt.edu.cn:80/opac/book/528253
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Fringe pattern analysis for optical metrology : theory, algorithms, and applications /

Quiroga, J. Antonio,Padilla, J. Moisés.,.

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