检索条件: Optical characterization technique for semiconductor technology ( 著者 )
责任者 D. E. Aspnes,Optical characterization technique for semiconductor technology
出版信息 SPIE ,1981
ISBN
扫二维码,手机查看
在粘贴到您的文章之前,请再检查一遍引文格式的准确性。
Optical characterization techniques for semiconductor technology (1981 : Calif.)
D. E. Aspnes,Optical characterization technique for semiconductor technology.SPIE,1981.
通借图书
加入成功
您可到个人图书馆查看或取消预约
预约图书
您可在“我的图书馆→我的预约”菜单里查看预约记录
没有可借图书,您可对该书进行预约,等书还回后会按照预约顺序分配给您