检索条件： Lloyd, J. R. ( 著者 )
责任者 Thompson, C. V.,Lloyd, J. R.
出版信息 Cambridge University Press, ,2014.
ISBN 978-1-107-40968-2
扫二维码，手机查看
在粘贴到您的文章之前，请再检查一遍引文格式的准确性。
Materials reliability in microelectronics II : symposium held April 27-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A. /
Thompson, C. V.,Lloyd, J. R..Cambridge University Press,,2014..
通借图书
加入成功
您可到个人图书馆查看或取消预约
预约图书
您可在“我的图书馆→我的预约”菜单里查看预约记录
没有可借图书，您可对该书进行预约，等书还回后会按照预约顺序分配给您
