检索条件： International Test Conference ( 著者 )
责任者 International Test Conference
出版信息 IEEE Computer Society Pr. ,1990
ISBN
扫二维码，手机查看
在粘贴到您的文章之前，请再检查一遍引文格式的准确性。
International Test Conference (1990 : Los Alamitos, Calif.)
International Test Conference.IEEE Computer Society Pr.,1990.
责任者
出版信息 IEEE ,1992
ISBN 0-8186-3167-8
International Test Conference (1992)
.IEEE,1992.
出版信息 Computer Society Pr. of the IEEE ,1989
International Test Conference (1989 : Wash. D. C.)：Meeting the tests of time
.Computer Society Pr. of the IEEE,1989.
出版信息 Computer Society Press of the IEEE ,1988
International Test Conference (1988 : Washington, D. C.)：New frontiers in testing
.Computer Society Press of the IEEE,1988.
出版信息 IEEE ,1987
International Test Conference (1987 : Washington, D. C.)：Integration of test with design and manufacturing
.IEEE,1987.
出版信息 IEEE ,1986
International Test Conference (1986)：Testing`s impact on design and technology
.IEEE,1986.
出版信息 IEEE ,1985
International Test Conference (1985)：The future of test : proceedings
.IEEE,1985.
出版信息 IEEE ,1984
International Test Conference (1984)：The three faces of test : deisgn, characterization, production
.IEEE,1984.
出版信息 IEEE ,1982
International Test Conference (1982)：quality productivity profit : digest of papers
.IEEE,1982.
出版信息 IEEE ,1983
International Test Conference (1983)：testing`s changing role
.IEEE,1983.
通借图书
加入成功
您可到个人图书馆查看或取消预约
预约图书
您可在“我的图书馆→我的预约”菜单里查看预约记录
没有可借图书，您可对该书进行预约，等书还回后会按照预约顺序分配给您
