检索条件： Hosmer, David W. ( 著者 )
责任者 David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow, Rodney X. Sturdivant.
出版信息 Wiley, ,c2013.
ISBN 9780470582473 (hardback) :
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Applied logistic regression /
David W. Hosmer, Jr., Stanley Lemeshow, Rodney X. Sturdivant..Wiley,,c2013..
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