检索条件： Fundamental of structure and mechanism reliability design ( 题名 )

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1 图书 Fundamental of structure and mechanism reliability design
责任者吕震宙,宋述芳,李璐祎

出版信息科学出版社 ,2024

ISBN 978-7-03-077378-4

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吕震宙,宋述芳,李璐祎.Fundamental of structure and mechanism reliability design.科学出版社,2024.
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Fundamental of structure and mechanism reliability design

吕震宙,宋述芳,李璐祎.科学出版社,2024.
2 图书 Structural dynamics of electronic and photonic systems /
责任者 Suhir, Ephraim.,Yu, T. X.,Connally, Eric.

出版信息 Wiley, ,c2011.

ISBN 9780470250020 (hbk.) :

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Suhir, Ephraim.,Yu, T. X.,Connally, Eric..Structural dynamics of electronic and photonic systems /.Wiley,,c2011..
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Structural dynamics of electronic and photonic systems /

Suhir, Ephraim.,Yu, T. X.,Connally, Eric..Wiley,,c2011..
3 图书 Spacecraft systems engineering /
责任者 edited by Peter Fortescue, John Stark, Graham Swinerd.

出版信息 Wiley, ,c2011.

ISBN 9780470750124 (hbk.)

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edited by Peter Fortescue, John Stark, Graham Swinerd..Spacecraft systems engineering /.Wiley,,c2011..
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Spacecraft systems engineering /

edited by Peter Fortescue, John Stark, Graham Swinerd..Wiley,,c2011..
4 图书 Safety and reliability of existing structures
责任者 James Tsu-ping Yao

出版信息 Pitman Advanced Pub. Program ,1985

ISBN

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James Tsu-ping Yao.Safety and reliability of existing structures.Pitman Advanced Pub. Program,1985.
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Safety and reliability of existing structures

James Tsu-ping Yao.Pitman Advanced Pub. Program,1985.
5 图书 Electromigration modeling at circuit layout level /
责任者 He, Feifei.

出版信息 Springer, ,c2013.

ISBN 9789814451208

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He, Feifei..Electromigration modeling at circuit layout level /.Springer,,c2013..
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Electromigration modeling at circuit layout level /

He, Feifei..Springer,,c2013..

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