检索条件： Electrodiffusion ( 主题词 )

检索结果共有3条

匹配度排行

出版/发布时间

在馆记录

检索筛选

1 图书 Materials reliability in microelectronics III : symposiumheld April 12-15, 1993, San Francisco, California, U.S.A. /
责任者 Rodbell, Kenneth P.

出版信息 Cambridge University Press, ,2014.

ISBN 978-1-107-40948-4

馆藏信息

图书信息

随书附盘
扫二维码，手机查看
馆内电子资源：点击查看电子书
- 暂无电子资源
Rodbell, Kenneth P..Materials reliability in microelectronics III : symposiumheld April 12-15, 1993, San Francisco, California, U.S.A. /.Cambridge University Press,,2014..
复制引文到剪贴板
在粘贴到您的文章之前，请再检查一遍引文格式的准确性。

http://libopac.nudt.edu.cn:80/opac/book/472674
复制引文到剪贴板

Materials reliability in microelectronics III : symposiumheld April 12-15, 1993, San Francisco, California, U.S.A. /

Rodbell, Kenneth P..Cambridge University Press,,2014..
2 图书 Materials reliability in microelectronics II : symposium held April 27-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A. /
责任者 Thompson, C. V.,Lloyd, J. R.

出版信息 Cambridge University Press, ,2014.

ISBN 978-1-107-40968-2

馆藏信息

图书信息

随书附盘
扫二维码，手机查看
馆内电子资源：点击查看电子书
- 暂无电子资源
Thompson, C. V.,Lloyd, J. R..Materials reliability in microelectronics II : symposium held April 27-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A. /.Cambridge University Press,,2014..
复制引文到剪贴板
在粘贴到您的文章之前，请再检查一遍引文格式的准确性。

http://libopac.nudt.edu.cn:80/opac/book/472686
复制引文到剪贴板

Materials reliability in microelectronics II : symposium held April 27-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A. /

Thompson, C. V.,Lloyd, J. R..Cambridge University Press,,2014..
3 图书 Electromigration modeling at circuit layout level /
责任者 He, Feifei.

出版信息 Springer, ,c2013.

ISBN 9789814451208

馆藏信息

图书信息

随书附盘
扫二维码，手机查看
馆内电子资源：点击查看电子书
- 暂无电子资源
He, Feifei..Electromigration modeling at circuit layout level /.Springer,,c2013..
复制引文到剪贴板
在粘贴到您的文章之前，请再检查一遍引文格式的准确性。

http://libopac.nudt.edu.cn:80/opac/book/528462
复制引文到剪贴板

Electromigration modeling at circuit layout level /

He, Feifei..Springer,,c2013..

通借成功!

预约成功!