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检索条件： Eishi H. Ibe. ( 著者 )

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1 图书现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应
责任者伊部英治

出版信息电子工业出版社 ,2019

ISBN 978-7-121-35115-0

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伊部英治.现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应.电子工业出版社,2019.
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现代集成电路和电子系统的地球环境辐射效应

伊部英治.电子工业出版社,2019.
2 图书 Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /
责任者 Eishi H. Ibe.

出版信息 John Wiley & Sons Inc., ,2015.

ISBN 9781118479292 (cloth : alk. paper) :

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Eishi H. Ibe..Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /.John Wiley & Sons Inc.,,2015..
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http://libopac.nudt.edu.cn:80/opac/book/526680
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Terrestrial radiation effects in ULSI devices and electronic systems /

Eishi H. Ibe..John Wiley & Sons Inc.,,2015..

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