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1 图书 CMOS gate-stack scaling-- materials, interfaces and reliability implications: symposium held April 14-16, 2009, San Francisco, california, U.S.A.
责任者 Demkov, Alexander A.

出版信息 Cambridge University Press ,2014

ISBN 978-1-107-40832-6

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Demkov, Alexander A..CMOS gate-stack scaling-- materials, interfaces and reliability implications: symposium held April 14-16, 2009, San Francisco, california, U.S.A..Cambridge University Press,2014.
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CMOS gate-stack scaling-- materials, interfaces and reliability implications: symposium held April 14-16, 2009, San Francisco, california, U.S.A.

Demkov, Alexander A..Cambridge University Press,2014.
2 图书 Integration of functional oxides with semiconductors /
责任者 Posadas, Agham B.

出版信息 Springer New York : ,2014.

ISBN 9781461493198 (hbk.)

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Posadas, Agham B..Integration of functional oxides with semiconductors /.Springer New York :,2014..
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http://libopac.nudt.edu.cn:80/opac/book/527305
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Integration of functional oxides with semiconductors /

Posadas, Agham B..Springer New York :,2014..

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