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检索条件： Alfred L. Crouch著. ( 著者 )

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1 图书 Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems =: 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 /
责任者 Alfred L. Crouch著.

出版信息中国电力出版社, ,2004.

ISBN 7-5083-1904-4

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Alfred L. Crouch著..Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems =: 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 /.中国电力出版社,,2004..
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Design-for-test for digital IC`s and embedded core systems =: 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 /

Alfred L. Crouch著..中国电力出版社,,2004..

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