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1 图书 ATE & Instrumentation Conference (1990 : Anaheim)
责任者 ATE & Instrumentation Conference

出版信息 ASTE ,1990

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ATE & Instrumentation Conference.ATE & Instrumentation Conference (1990 : Anaheim).ASTE,1990.
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http://libopac.nudt.edu.cn:80/opac/book/31106
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ATE & Instrumentation Conference (1990 : Anaheim)

ATE & Instrumentation Conference.ASTE,1990.
2 图书 ATE：automatic test equipment
责任者 A. C. Stover

出版信息 McGraw-Hill ,1984

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A. C. Stover.ATE：automatic test equipment.McGraw-Hill,1984.
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ATE：automatic test equipment

A. C. Stover.McGraw-Hill,1984.
3 图书 ATE & Instrumentation Conference West (1989 : Anaheim, Calif.)：Innovation in test
责任者 sponsored by Electronics Test, Circuits Manufacturing and EEOS/ESD Technology Magazines

出版信息 MG Expositions Group ,1988

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sponsored by Electronics Test, Circuits Manufacturing and EEOS/ESD Technology Magazines.ATE & Instrumentation Conference West (1989 : Anaheim, Calif.)：Innovation in test.MG Expositions Group,1988.
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ATE & Instrumentation Conference West (1989 : Anaheim, Calif.)：Innovation in test

sponsored by Electronics Test, Circuits Manufacturing and EEOS/ESD Technology Magazines.MG Expositions Group,1988.
4 图书 ATE Seminar/Exhibit (1978 : Los Angeles)：automated testing for electronics manufaturing
责任者 Circuits Manufacturing Magazine

出版信息 Benwill ,1978

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Circuits Manufacturing Magazine.ATE Seminar/Exhibit (1978 : Los Angeles)：automated testing for electronics manufaturing.Benwill,1978.
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ATE Seminar/Exhibit (1978 : Los Angeles)：automated testing for electronics manufaturing

Circuits Manufacturing Magazine.Benwill,1978.
5 图书 ATE & Instrumentation Conference East (1989 : Anaheim, Calif.)：Winning test solutions for the `90s
责任者 sponsored by Electronics test, Circuits Manfacturing and EOS/ESD Technology magazines

出版信息 MG Expositions Group ,1988

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sponsored by Electronics test, Circuits Manfacturing and EOS/ESD Technology magazines.ATE & Instrumentation Conference East (1989 : Anaheim, Calif.)：Winning test solutions for the `90s.MG Expositions Group,1988.
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ATE & Instrumentation Conference East (1989 : Anaheim, Calif.)：Winning test solutions for the `90s

sponsored by Electronics test, Circuits Manfacturing and EOS/ESD Technology magazines.MG Expositions Group,1988.
6 图书 ATE Seminar and Exhibit (1977 : Hyatt-Regency, Cambridge)：automated testing for electronics manufaturing
责任者 Circuits Manufacturing Magazine

出版信息 Benwill ,1977

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Circuits Manufacturing Magazine.ATE Seminar and Exhibit (1977 : Hyatt-Regency, Cambridge)：automated testing for electronics manufaturing.Benwill,1977.
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ATE Seminar and Exhibit (1977 : Hyatt-Regency, Cambridge)：automated testing for electronics manufaturing

Circuits Manufacturing Magazine.Benwill,1977.
7 图书拥抱开源
责任者哈夫

出版信息人民邮电出版社 ,2022

ISBN 978-7-115-59697-0

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哈夫.拥抱开源.人民邮电出版社,2022.
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拥抱开源

哈夫.人民邮电出版社,2022.
8 图书 Automatic Testing `81 and Test Instrumentation Conference (1981 : Brighton)：Automatic testing 81 & test instrumentation．2，IEEE Bus(GPIB) and its ATE applications
责任者

出版信息 Network ,1981

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.Automatic Testing `81 and Test Instrumentation Conference (1981 : Brighton)：Automatic testing 81 & test instrumentation．2，IEEE Bus(GPIB) and its ATE applications.Network,1981.
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Automatic Testing `81 and Test Instrumentation Conference (1981 : Brighton)：Automatic testing 81 & test instrumentation．2，IEEE Bus(GPIB) and its ATE applications

.Network,1981.
9 图书 Automatic Testing `81 and Test Instrumentation Conference (1981 : Brighton)：Automatic testing 81 & test instrumentation．3，General applications and ATE philosophy
责任者

出版信息 Network ,1981

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.Automatic Testing `81 and Test Instrumentation Conference (1981 : Brighton)：Automatic testing 81 & test instrumentation．3，General applications and ATE philosophy.Network,1981.
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Automatic Testing `81 and Test Instrumentation Conference (1981 : Brighton)：Automatic testing 81 & test instrumentation．3，General applications and ATE philosophy

.Network,1981.
10 图书语言中的去时间化研究
责任者莫启扬

出版信息科学出版社 ,2016

ISBN 978-7-03-048513-7

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莫启扬.语言中的去时间化研究.科学出版社,2016.
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语言中的去时间化研究

莫启扬.科学出版社,2016.

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