检索条件: 韩银和 ( 著者 )
责任者 靳松,韩银和
出版信息 清华大学出版社 ,2012
ISBN 978-7-302-28543-4
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纳米数字集成电路老化效应:分析、预测及优化
靳松,韩银和.清华大学出版社,2012.
责任者 李晓维,韩银和,胡瑜
出版信息 科学出版社 ,2010
ISBN 978-7-03-027894-4
数字集成电路测试优化:测试压缩、测试功耗优化、测试调度
李晓维,韩银和,胡瑜.科学出版社,2010.
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