检索条件： 集成电路测试技术 ( 题名 )
责任者 高成,张栋,王香芬
出版信息 国防工业出版社 ,2009.02
ISBN 978-7-118-06071-3
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最新集成电路测试技术
高成,张栋,王香芬.国防工业出版社,2009.02.
责任者 武乾文
出版信息 电子工业出版社 ,2022
ISBN 978-7-121-44351-0
集成电路测试技术
武乾文.电子工业出版社,2022.
责任者 姜岩峰,张晓波,杨兵
出版信息 化学工业出版社 ,2008.09
ISBN 978-7-122-02948-5
集成电路测试技术基础
姜岩峰,张晓波,杨兵.化学工业出版社,2008.09.
责任者 蒋顺成,王勇
出版信息 中国宇航出版社 ,2025
ISBN 978-7-5159-2186-0
航天集成电路测试技术
蒋顺成,王勇.中国宇航出版社,2025.
责任者 《现代集成电路测试技术》编写组
出版信息 化学工业出版社 ,2006
ISBN 7-5025-8131-6
现代集成电路测试技术
《现代集成电路测试技术》编写组.化学工业出版社,2006.
责任者 刘晋东,张弘,娄永乐,管连
出版信息 机械工业出版社 ,2025
ISBN 978-7-111-78745-7
集成电路测试技术与实践
刘晋东,张弘,娄永乐,管连.机械工业出版社,2025.
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