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1 图书属性数据分析引论
责任者 (美)阿格雷斯特(Alan Agresti)著

出版信息高等教育出版社 ,2008

ISBN 978-7-04-024751-0

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(美)阿格雷斯特(Alan Agresti)著.属性数据分析引论.高等教育出版社,2008.
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属性数据分析引论

(美)阿格雷斯特(Alan Agresti)著.高等教育出版社,2008.
2 图书光纤通信系统
责任者 (美)Govind P. Agrawal著

出版信息电子工业出版社 ,2016

ISBN 978-7-121-28140-2

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(美)Govind P. Agrawal著.光纤通信系统.电子工业出版社,2016.
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光纤通信系统

(美)Govind P. Agrawal著.电子工业出版社,2016.
3 图书指挥控制的新构想：企业的未来
责任者 (美) Marius S. Vassiliou, David S. Alberts, Jonathan R. Agre著

出版信息国防工业出版社 ,2016

ISBN 978-7-118-10805-7

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(美) Marius S. Vassiliou, David S. Alberts, Jonathan R. Agre著.指挥控制的新构想：企业的未来.国防工业出版社,2016.
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指挥控制的新构想：企业的未来

(美) Marius S. Vassiliou, David S. Alberts, Jonathan R. Agre著.国防工业出版社,2016.
4 图书超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统
责任者 (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著

出版信息国防科技大学出版社 ,2022

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(美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著.超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统.国防科技大学出版社,2022.
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超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统

(美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著.国防科技大学出版社,2022.
5 图书超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统
责任者 (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著

出版信息电子工业出版社 ,2005

ISBN 7-121-01490-4

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(美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著.超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统.电子工业出版社,2005.
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超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统

(美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著.电子工业出版社,2005.

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