检索条件： 戴,蔡润波 ( 著者 )
责任者 戴,蔡润波
出版信息 机械工业出版社 ,2024
ISBN 978-7-111-75364-3
扫二维码，手机查看
在粘贴到您的文章之前，请再检查一遍引文格式的准确性。
基于TSV的三维堆叠集成电路的可测性设计与测试优化技术
戴,蔡润波.机械工业出版社,2024.
通借图书
加入成功
您可到个人图书馆查看或取消预约
预约图书
您可在“我的图书馆→我的预约”菜单里查看预约记录
没有可借图书，您可对该书进行预约，等书还回后会按照预约顺序分配给您
