检索条件： 恩云飞 ( 著者 )
责任者 周斌,恩云飞,陈思
出版信息 电子工业出版社 ,2023
ISBN 978-7-121-46151-4
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集成电路封装可靠性技术
周斌,恩云飞,陈思.电子工业出版社,2023.
责任者 孔学东,恩云飞
出版信息 国防工业出版社 ,2006
ISBN 7-118-04619-1
电子元器件失效分析与典型案例
孔学东,恩云飞.国防工业出版社,2006.
责任者 孔学东,恩云飞,黄云
出版信息 国防工业出版社 ,2009.02
ISBN 978-7-118-05973-1
电子信息技术的理论与应用：中国电子学会第十四届青年学术年会论文集
孔学东,恩云飞,黄云.国防工业出版社,2009.02.
责任者 何小琦,恩云飞,周斌
出版信息 电子工业出版社 ,2022
ISBN 978-7-121-42577-6
电子微组装可靠性设计．应用篇
何小琦,恩云飞,周斌.电子工业出版社,2022.
责任者 恩云飞,来萍,李少平
出版信息 电子工业出版社 ,2015
ISBN 978-7-121-27230-1
电子元器件失效分析技术
恩云飞,来萍,李少平.电子工业出版社,2015.
责任者 何小琦,恩云飞,宋芳芳
出版信息 电子工业出版社 ,2020
ISBN 978-7-121-32181-8
电子微组装可靠性设计．基础篇
何小琦,恩云飞,宋芳芳.电子工业出版社,2020.
责任者 孔学东,恩云飞,陆裕东
出版信息 电子工业出版社 ,2013
ISBN 978-7-121-21768-5
电子产品故障预测与健康管理：应用构架与实践
孔学东,恩云飞,陆裕东.电子工业出版社,2013.
责任者 恩云飞,谢少锋,何小琦
ISBN 978-7-121-27232-5
可靠性物理
恩云飞,谢少锋,何小琦.电子工业出版社,2015.
责任者 章晓文,恩云飞,工业和信息化部电子第五研究所
ISBN 978-7-121-27160-1
半导体集成电路的可靠性及评价方法
章晓文,恩云飞,工业和信息化部电子第五研究所.电子工业出版社,2015.
责任者 哈策尔,席尔瓦,谢伊
出版信息 电子工业出版社 ,2012.11
ISBN 978-7-121-18805-3
MEMS可靠性
哈策尔,席尔瓦,谢伊.电子工业出版社,2012.11.
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