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1 图书集成电路封装可靠性技术
责任者周斌, 恩云飞, 陈思编著

出版信息电子工业出版社 ,2023

ISBN 978-7-121-46151-4

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周斌, 恩云飞, 陈思编著.集成电路封装可靠性技术.电子工业出版社,2023.
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集成电路封装可靠性技术

周斌, 恩云飞, 陈思编著.电子工业出版社,2023.
2 图书电子元器件失效分析与典型案例
责任者孔学东，恩云飞主编

出版信息国防工业出版社 ,2006

ISBN 7-118-04619-1

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孔学东，恩云飞主编.电子元器件失效分析与典型案例.国防工业出版社,2006.
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电子元器件失效分析与典型案例

孔学东，恩云飞主编.国防工业出版社,2006.
3 图书电子信息技术的理论与应用：中国电子学会第十四届青年学术年会论文集
责任者孔学东, 恩云飞, 黄云主编

出版信息国防工业出版社 ,2009.02

ISBN 978-7-118-05973-1

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孔学东, 恩云飞, 黄云主编.电子信息技术的理论与应用：中国电子学会第十四届青年学术年会论文集.国防工业出版社,2009.02.
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电子信息技术的理论与应用：中国电子学会第十四届青年学术年会论文集

孔学东, 恩云飞, 黄云主编.国防工业出版社,2009.02.
4 图书电子微组装可靠性设计．基础篇
责任者何小琦, 恩云飞, 宋芳芳编著

出版信息电子工业出版社 ,2020

ISBN 978-7-121-32181-8

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何小琦, 恩云飞, 宋芳芳编著.电子微组装可靠性设计．基础篇.电子工业出版社,2020.
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电子微组装可靠性设计．基础篇

何小琦, 恩云飞, 宋芳芳编著.电子工业出版社,2020.
5 图书电子产品故障预测与健康管理：应用构架与实践
责任者孔学东, 恩云飞, 陆裕东等著

出版信息电子工业出版社 ,2013

ISBN 978-7-121-21768-5

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孔学东, 恩云飞, 陆裕东等著.电子产品故障预测与健康管理：应用构架与实践.电子工业出版社,2013.
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电子产品故障预测与健康管理：应用构架与实践

孔学东, 恩云飞, 陆裕东等著.电子工业出版社,2013.
6 图书电子微组装可靠性设计．应用篇
责任者何小琦, 恩云飞, 周斌编著

出版信息电子工业出版社 ,2022

ISBN 978-7-121-42577-6

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何小琦, 恩云飞, 周斌编著.电子微组装可靠性设计．应用篇.电子工业出版社,2022.
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电子微组装可靠性设计．应用篇

何小琦, 恩云飞, 周斌编著.电子工业出版社,2022.
7 图书电子元器件失效分析技术
责任者工业和信息化部电子第五研究所组编

出版信息电子工业出版社 ,2015

ISBN 978-7-121-27230-1

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工业和信息化部电子第五研究所组编.电子元器件失效分析技术.电子工业出版社,2015.
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电子元器件失效分析技术

工业和信息化部电子第五研究所组编.电子工业出版社,2015.
8 图书可靠性物理
责任者工业和信息化部电子第五研究所组编

出版信息电子工业出版社 ,2015

ISBN 978-7-121-27232-5

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工业和信息化部电子第五研究所组编.可靠性物理.电子工业出版社,2015.
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可靠性物理

工业和信息化部电子第五研究所组编.电子工业出版社,2015.
9 图书半导体集成电路的可靠性及评价方法
责任者工业和信息化部电子第五研究所组编

出版信息电子工业出版社 ,2015

ISBN 978-7-121-27160-1

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工业和信息化部电子第五研究所组编.半导体集成电路的可靠性及评价方法.电子工业出版社,2015.
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半导体集成电路的可靠性及评价方法

工业和信息化部电子第五研究所组编.电子工业出版社,2015.
10 图书 MEMS可靠性
责任者 (美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著

出版信息电子工业出版社 ,2012.11

ISBN 978-7-121-18805-3

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(美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著.MEMS可靠性.电子工业出版社,2012.11.
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MEMS可靠性

(美) Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, (瑞士) Herbert R. Shea著.电子工业出版社,2012.11.

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