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1 图书半导体器件电离辐射总剂量效应
责任者陈伟, 何宝平, 姚志斌, 马武英编著

出版信息科学出版社 ,2022

ISBN 978-7-03-070039-1

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陈伟, 何宝平, 姚志斌, 马武英编著.半导体器件电离辐射总剂量效应.科学出版社,2022.
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半导体器件电离辐射总剂量效应

陈伟, 何宝平, 姚志斌, 马武英编著.科学出版社,2022.
2 图书电子器件辐射效应仿真技术
责任者丁李利, 陈伟, 王坦著

出版信息科学出版社 ,2025

ISBN 978-7-03-080501-0

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丁李利, 陈伟, 王坦著.电子器件辐射效应仿真技术.科学出版社,2025.
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电子器件辐射效应仿真技术

丁李利, 陈伟, 王坦著.科学出版社,2025.
3 图书纳米CMOS器件及电路的辐射效应
责任者刘保军, 刘小强, 刘忠永著

出版信息电子工业出版社 ,2021

ISBN 978-7-121-40841-0

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刘保军, 刘小强, 刘忠永著.纳米CMOS器件及电路的辐射效应.电子工业出版社,2021.
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纳米CMOS器件及电路的辐射效应

刘保军, 刘小强, 刘忠永著.电子工业出版社,2021.
4 图书空间辐射环境可靠性技术
责任者王群勇, 陈冬梅著

出版信息国防工业出版社 ,2022

ISBN 978-7-118-12216-9

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王群勇, 陈冬梅著.空间辐射环境可靠性技术.国防工业出版社,2022.
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空间辐射环境可靠性技术

王群勇, 陈冬梅著.国防工业出版社,2022.
5 图书电子器件的电离辐射效应：从存储器到图像传感器：from memories to imagers
责任者 (意) Marta Bagatin, Simone Gerardin

出版信息电子工业出版社 ,2022

ISBN 978-7-121-44206-3

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(意) Marta Bagatin, Simone Gerardin.电子器件的电离辐射效应：从存储器到图像传感器：from memories to imagers.电子工业出版社,2022.
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电子器件的电离辐射效应：从存储器到图像传感器：from memories to imagers

(意) Marta Bagatin, Simone Gerardin.电子工业出版社,2022.

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