检索条件: 孙义和 ( 著者 )
责任者 克拉茨
出版信息 机械工业出版社 ,2006.5
ISBN 7-111-18706-7
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数字集成电路与嵌入式内核系统的测试设计
克拉茨.机械工业出版社,2006.5.
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