检索条件： Alford, Terry L. ( 著者 )
责任者 Feldman, Leonard C.,Mayer, James W.,
出版信息 科学出版社, ,2008.
ISBN 978-7-03-022259-6
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Fundamentals of nanoscale film analysis =: 纳米薄膜分析基础 /
Feldman, Leonard C.,Mayer, James W.,.科学出版社,,2008..
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