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题名:
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X射线多晶衍射数据Rietveld精修及GSAS软件入门 / 郑振环, 陈玉龙编著 , |
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ISBN:
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978-7-5160-4060-7 价格： CNY39.80 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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134页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 中国建材工业出版社 出版日期： 2024 |
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内容提要:
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本书共四章，侧重从操作示例来介绍Rietveld法的原理和精修基本过程。第一章简要介绍了Rietveld法结构精修的发展概况和基本原理。第二章主要介绍EXPGUI-GSAS软件安装和界面。第三章简要介绍Rietveld法Ｘ射线多晶衍射数据的实验技术，以简单的例子演示EXPGUI-GSAS软件Rietveld精修的基本过程、精修结果的提取以及图谱的绘图，并给出了空间群设定问题的解决、精修角度范围设定和定制EX-PGUI等内容。第四章给出了五个提高练习示例，包括仪器参数文件的建立、含非晶混合物的定量分析、LeBail法拟合及占位修正、峰形参数计算晶粒尺寸和微观应变以及批量精修等。 |
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主题词:
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多晶 X射线衍射 |
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中图分类法:
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O721 版次： 5 |
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主要责任者:
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郑振环 编著 |
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主要责任者:
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陈玉龙 编著 |