题名:
X射线光谱中突变核脉冲处理技术研究   / 唐琳, 余松科, 方方著 ,
ISBN:
978-7-5770-1345-9 价格： CNY68.00
语种:
chi
载体形态:
162页 图 24cm
出版发行:
出版地： 成都 出版社： 电子科技大学出版社 出版日期： 2024
内容提要:
本书深入探讨了X射线光谱中突变核脉冲处理技术的理论与实践, 旨在为相关领域的研究者提供全面且深入的应用指导。本书不仅分析了突变核脉冲处理技术在X射线光谱分析中的重要性, 还详细介绍了该技术在提高光谱分辨率和信号检测灵敏度方面的应用。 
主题词:
X射线光谱学   核电子学
中图分类法:
TL822 版次： 5
主要责任者:
唐琳, 著
主要责任者:
余松科, 著
主要责任者:
方方, 著
责任者附注:
唐琳, 成都理工大学核技术及应用专业博士, 现就职于成都大学, 副教授, 硕士生导师。主要研究方向为仪器仪表、信号处理、深度学习等。主持国家自然科学青年基金1项、国家重点实验室开放课题1项、教育部产学合作协同育人项目2项、四川省科技厅项目2项。发表SCI论文、中文核心期刊论文20余篇。余松科, 成都理工大学核技术及应用专业博士, 现就职于成都工业学院, 讲师。主要研究方向为微剂量学与微剂量探测器研究。发表学术论文8篇, 其中SCI收录6篇。方方, 成都地质学院 (现成都理工大学) 放射性地球物理专业博士, 教授。主要研究方向为核地球物理、核技术应用、测控技术与仪器等。发表学术论文198篇, 出版教材5本。