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题名:
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公差与技术测量 / 主编黄皞磊 , |
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ISBN:
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978-7-5763-3635-1 价格： CNY84.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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258页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京理工大学出版社有限责任公司 出版日期： 2024 |
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内容提要:
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.本书含:第一章光滑圆柱体结合的互换性，第二章长度测量基础，第三章几何公差与检测，第四章表面粗糙度，第五章光滑极限量规，第六章滚动轴承的互换性与检测，第七章圆锥的互换性与检测，第八章键与花键联结的互换性与检测，第九章普通螺纹结合的互换性，第十章渐开线直齿圆柱齿轮传动的互换性及检测。 |
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主题词:
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公差 高等学校 |
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主题词:
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技术测量 高等学校 |
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中图分类法:
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TG801 版次： 5 |
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主要责任者:
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黄皞磊 主编 |