|
题名:
|
微观缺陷对炸药性能影响的分子动力学模拟 / 杭贵云, 王金涛, 王涛著 , |
|
ISBN:
|
978-7-118-13769-9 价格： CNY79.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
203页, 6页图版 图 (部分彩图) 24cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2025 |
|
内容提要:
|
本书共分为6章：第1章介绍含能材料微观缺陷的基础知识，包括微观缺陷产生的原因、微观缺陷产生的机理、含能材料微观缺陷研究现状；第2章介绍分子动力学理论基础知识；第3章选取高能炸药PETN、HMX为研究对象，探究微观缺陷对单体炸药性能影响情况；第4章以HMX基PBX、CL-20基PBX与B炸药为研究对象，探究微观缺陷对混合炸药性能影响；第5章选取典型的CL-20/DNB、CL-20/TNT、CL-20/NQ、CL-20/HMX共晶炸药为研究对象，探究微观缺陷对CL-20共晶炸药性能影响情况等。 |
|
主题词:
|
晶体缺陷 影响 |
|
中图分类法:
|
TQ560.71 版次： 5 |
|
主要责任者:
|
杭贵云 著 |
|
主要责任者:
|
王金涛 著 |
|
主要责任者:
|
王涛 著 |