题名:
芯片测试与安全
/ 王虹飞编著 ,
ISBN:
978-7-111-79251-2 价格： CNY59.00
语种:
chi
载体形态:
207页 图 26cm
出版发行:
出版地： 北京 出版社：
机械工业出版社
出版日期： 2025
内容提要:
本书全面介绍了芯片测试与安全的基础理论与核心技术, 包括故障模型、测试矢量生成、可测试性设计、扫描设计和内建自测试, 重点分析故障仿真与诊断方法。
主题词:
芯片
测试
主题词:
信息安全
高等教育
中图分类法:
TN43 版次： 5
中图分类法:
G203 版次： 5
主要责任者:
王虹飞
编著
附注:
机工教育 双色印刷 新形态教材