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题名:
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电子器件辐射效应仿真技术 / 丁李利, 陈伟, 王坦著 , |
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ISBN:
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978-7-03-080501-0 价格： CNY128.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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184页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2025 |
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内容提要:
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本书主要介绍总剂量效应仿真技术、单粒子效应仿真技术、位移损伤仿真技术、瞬时剂量率效应仿真技术、辐射效应仿真软件等内容，给出粒子输运仿真、器件级仿真、电路级仿真等不同层级仿真手段在辐射效应研究中的应用案例。 |
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主题词:
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电子器件 辐射效应 |
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中图分类法:
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TN6 版次： 5 |
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主要责任者:
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丁李利 著 |
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主要责任者:
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陈伟 著 |
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主要责任者:
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王坦 著 |