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题名:
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航天集成电路测试技术 / 蒋顺成, 王勇主编 , |
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ISBN:
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978-7-5159-2186-0 价格： CNY98.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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354页, [4] 页图版 图 (部分彩图) 22cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 中国宇航出版社 出版日期： 2025 |
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内容提要:
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本书共分6章，第1章为“体”，让读者对集成电路测试产业整体了解；第2、3章为“面”，全面分析集成电路测试的技术与需求；第4、5章为“线”“点”，按单片与混合集成电路分类，以实例“勾勒”出具体到细节的测试方法；第6章为“辅”，详细介绍了集成电路测试的典型设备。 |
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主题词:
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航天器 集成电路 |
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中图分类法:
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V44 版次： 5 |
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主要责任者:
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蒋顺成 主编 |
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主要责任者:
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王勇 主编 |
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附注:
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航天科技图书出版基金资助出版 |