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题名:
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半导体结构 / 张彤, 李国兴, 徐宝琨编著 , |
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ISBN:
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978-7-03-078977-8 价格： CNY59.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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212页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2024 |
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内容提要:
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本书主要介绍半导体的晶体结构以及缺陷理论。主要内容包括晶体的性质，晶体的构造理论，晶体的对称性理论，晶体的晶向和晶面，半导体材料及电子材料晶体结构的特点及性质，半导体中的点缺陷、线缺陷和面缺陷，以及半导体结构的表征技术。 |
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主题词:
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半导体器件 结构 |
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中图分类法:
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TN303 版次： 5 |
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主要责任者:
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张彤 编著 |
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主要责任者:
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李国兴 编著 |
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主要责任者:
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徐宝琨 编著 |