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题名:
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微电子器件可靠性 / 贾新章 ... [等] 编著 , |
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ISBN:
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978-7-04-063764-9 价格： CNY45.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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277页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 高等教育出版社 出版日期： 2025 |
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内容提要:
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本书共7章，以硅微电子器件为中心，在介绍可靠性基本概念、梳理可靠性基本理念的基础上，重点介绍微电路可靠性设计技术、可靠性的工艺保证要求和控制方法、微电路可靠性试验与评价，以及支撑这些技术的可靠性数学、可靠性物理和失效分析技术。本书同时介绍了氮化镓器件的主要失效机理和可靠性设计对策。 |
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主题词:
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微电子技术 电子器件 |
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中图分类法:
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TN406-43 版次： 5 |
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主要责任者:
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贾新章 编著 |
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版次:
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2版 |