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题名:
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层析γ扫描技术 / 张全虎, 周满, 黎素芬著 , |
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ISBN:
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978-7-118-13613-5 价格： CNY88.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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149页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2025 |
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内容提要:
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本书全面系统地阐述层析y扫描技术，对于其中的3个关键核心技术，即探测效率的刻度技术、透射图像重建技术和发射图像重建技术，进行了重点论述，在层析y扫描实验系统方面，结合实验室研发的实验装置，介绍了系统的结构、组成、原理及实验验证。 |
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主题词:
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核工程 工程材料 |
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中图分类法:
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TL34 版次： 5 |
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主要责任者:
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张全虎 著 |
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主要责任者:
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周满 著 |
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主要责任者:
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黎素芬 著 |