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题名:
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半导体器件建模与测试实验教程 / 杜江锋, 石艳玲, 朱能勇编著 , |
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ISBN:
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978-7-121-49371-3 价格： CNY58.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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213页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2025 |
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内容提要:
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本书基于国产EDA软件Empyrean XModel器件模刑提取工具，介绍硅基MOSFET和GaN HEMT的器件建模、测试分析和参数提取的设计和实验全流程。 |
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主题词:
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半导体器件 系统建模 |
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中图分类法:
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TN303 版次： 5 |
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其它题名:
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基于华大九天器件建模与验证平台XModel |
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主要责任者:
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杜江锋 编著 |
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主要责任者:
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石艳玲 编著 |
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主要责任者:
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朱能勇 编著 |
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附注:
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集成电路产业知识赋能工程 |