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题名:
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数字集成电路测试及可测性设计 / 张晓旭, 张永锋, 山丹编著 , |
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ISBN:
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978-7-122-46553-5 价格： CNY79.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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190页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 化学工业出版社 出版日期： 2024.11 |
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内容提要:
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本书从数字集成电路测试与可测性设计的基本概念出发, 系统介绍了数字集成电路测试的概念、原理及方法。主要内容包括: 数字集成电路测试基础、测试向量生成、可测性设计与扫描测试、边界扫描测试、内建自测试、存储器测试, 以及可测性设计案例及分析。 |
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主题词:
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数字集成电路 测试技术 |
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中图分类法:
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TN431.207 版次： 5 |
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主要责任者:
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张晓旭 编著 |
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主要责任者:
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张永锋 编著 |
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主要责任者:
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山丹 编著 |