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题名:
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SMT单板互连可靠性与典型失效场景 / 贾忠中, 张华, 赵宗启著 , |
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ISBN:
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978-7-121-48637-1 价格: CNY168.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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xiv, 274页 图 (部分彩图) 26cm |
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出版发行:
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出版地: 北京 出版社: 电子工业出版社 出版日期: 2024.8 |
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内容提要:
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本书内容共4个部分, 第一部分为焊点失效机理与裂纹特征, 详细介绍焊点的失效模式、失效机理、裂纹特征及失效分析方法; 第二部分为高可靠性产品的焊点设计, 包括封装选型、PCBA的互连结构设计、组装热设计及焊点的寿命评估技术; 第三部分为环境腐蚀与三防处理, 重点介绍腐蚀失效与锡须问题, 以及与之相关的清洗和三防工艺; 第四部分为高可靠性产品的制造, 重点介绍组装工艺控制要点与典型缺陷焊点。 |
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主题词:
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SMT技术 |
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中图分类法:
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TN305 版次: 5 |
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主要责任者:
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贾忠中 著 |
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主要责任者:
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张华 著 |
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主要责任者:
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赵宗启 著 |
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责任者附注:
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贾忠中, 中兴通讯股份有限公司首席工艺专家, 从事电子制造工艺研究与管理工作近40年。在中兴通讯工作期间, 见证并参与了中兴工艺的发展历程。 |