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题名:
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数字集成电路测试 / 李华伟 ... [等] 编著 , |
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ISBN:
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978-7-302-66203-7 价格： CNY79.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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258页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 清华大学出版社 出版日期： 2024 |
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内容提要:
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本书介绍数字集成电路测试的基础理论、方法与EDA实践。第1章为数字集成电路测试技术导论，第2～9章依次介绍故障模拟、测试生成、可测试性设计、逻辑内建自测试、测试压缩、存储器自测试与自修复、系统测试和SoC测试、逻辑诊断与良率分析等基础测试技术，第10章扩展介绍在汽车电子领域发展的测试技术，第11章对数字电路测试的技术趋势进行展望。 |
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主题词:
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数字集成电路 测试技术 |
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中图分类法:
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TN431.2 版次： 5 |
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主要责任者:
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李华伟 编著 |
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主要责任者:
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郑武东 编著 |
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主要责任者:
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温晓青 编著 |