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题名:
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模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践 / 黄晓宗 ... 等编著 , |
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ISBN:
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978-7-5767-0545-4 价格： CNY108.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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289页 图 25cm |
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出版发行:
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出版地： 哈尔滨 出版社： 哈尔滨工业大学出版社 出版日期： 2023 |
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内容提要:
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本书系统地介绍了辐射对电子系统的损伤机理，加固技术和实践，辐射测试技术等研宽内容，并阐述了抗辐射加固技术的发展趋势。第1章和第2章介绍了辐射环境与基本辐射效应，半导体器件的辐射效应损伤机理，并介绍了SiGe HBT BiCMOS工艺的辐射特性：第3~5章介绍了从工艺，版图和电路等方面进行抗辐射加固的技术：第6章针对模拟/混合信号集成电路加固技术的案例进行了研究：第7章和第8章介绍了模拟/混合信号集成电路辐射测试技术和抗辐射加固发展趋势。 |
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主题词:
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模拟集成电路 抗辐射性 |
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主题词:
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混合集成电路 抗辐射性 |
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中图分类法:
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TN431.1 版次： 5 |
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中图分类法:
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TN45 版次： 5 |
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主要责任者:
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黄晓宗 编著 |
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主要责任者:
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李儒章 编著 |
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主要责任者:
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付东兵 编著 |
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附注:
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国家出版基金项目 国家出版基金资助项目 |