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题名:
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超大规模集成电路测试 / (美)Michael L.Bushnell，(美)Vishwani D.Agrawal著 , 蒋安平，冯建华，王新安译 |
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ISBN:
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7-121-01490-4 价格： CNY58.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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16,511页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2005 |
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内容提要:
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本书系统介绍了VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试和可测试性设计。内容包括测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型、测试方法等。 |
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主题词:
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超大规模集成电路 测试技术 |
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中图分类法:
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TN470.7 版次： 5 |
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主要责任者:
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布什内尔 著 |
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主要责任者:
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阿格拉沃尔 著 |
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次要责任者:
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蒋安平 译 |
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次要责任者:
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冯建华 译 |
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次要责任者:
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王新安 译 |
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附注:
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国外电子与通信教材系列 |