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题名:
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Residual stresses and nanoindentation testing of films and coatings / 王海斗，朱丽娜，徐滨士著 , |
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ISBN:
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978-7-03-056731-4 价格： CNY120.00 |
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语种:
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eng |
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载体形态:
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207页 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2018 |
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内容提要:
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本书拟向广大读者介绍先进的纳米压痕技术测量残余应力的基本知识，期望让更多领域的专家与工程技术人员在机械设计、加工制造、维修与再制造中，了解这种测量技术的特点和效果，能合理地进行选用和运用，以求更好地指导生产实践，获得最大的社会与经济效益。本书共分五章，简单介绍了残余应力的形成机理及其对表面性能的影响，系统归纳了传统的残余应力测量技术的原理及缺陷。本书重点介绍了先进的纳米压痕测量技术，深入阐述了不同计算模型的测量原理、适用范围及缺陷，并系统总结了不同模型在残余应力测量中的实际应用。 |
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主题词:
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薄膜应力 纳米技术 |
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中图分类法:
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O343 版次： 5 |
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主要责任者:
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王海斗 著 |
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主要责任者:
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朱丽娜 著 |
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主要责任者:
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徐滨士 著 |