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题名:
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嵌入式处理器片上追踪调试技术 / 扈啸, 王耀华, 阮喻著 , |
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ISBN:
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978-7-5673-0580-9 价格： CNY49.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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199页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 长沙 出版社： 国防科技大学出版社 出版日期： 2021 |
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内容提要:
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本书是嵌入式处理器调试技术方面的专著。介绍了调试技术的相关研究，讨论了嵌入式处理器的调试模型，对片上trace技术的原理、优势和实现模型进行了深入分析，对片上信息采集压缩、trace数据流的片上传输结构、trace辅助调试调优应用以及程序控制流错误的在线检测等技术进行了深入研究，并对如何设计实现一套完整的多核片上trace调试系统进行了详述。 |
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主题词:
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微处理器 调式方法 |
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中图分类法:
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TP332 版次： 5 |
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主要责任者:
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扈啸 著 |
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主要责任者:
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王耀华 著 |
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主要责任者:
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阮喻 著 |