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题名:
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嵌入式处理器调试方法与案例分析 / 扈啸,王耀华著 , |
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ISBN:
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978-7-5673-0638-7 价格： CNY68.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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214页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 长沙 出版社： 国防科技大学出版社 出版日期： 2024 |
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内容提要:
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本书共分6章:第1章介绍了研究背景和主要内容,对目前嵌入式处理器调试技术领域现状进行了概述,对多核处理器的调试挑战进行了分析;第2章对解决工程问题的通用调试方法进行了论述,重点讨论了集合与逻辑、概率与因果方法、逻辑树与故障树等方法,提出了基于概率故障树的推理,并特别讨论了质量归零的方法和步骤;第3章概述了调试的技术和工具,讨论了处理器调试的模型,提出了一套调试的理论模型和基于影响要素的调试方法论;第4章对嵌人式处理器系统的核心设计问题进行了分析论述;第5章结合10个经典调试案例,对软硬件多种调试过程进行了深入描述和剖析;第6章对大量调试案例进行了分类归纳并简要分析。 |
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主题词:
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微处理器 调试方法 |
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中图分类法:
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TP332 版次： 5 |
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主要责任者:
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扈啸 著 |
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主要责任者:
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王耀华 著 |