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题名:
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晶体结构与缺陷的电子显微分析实验案例 / 马秀良著 , |
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ISBN:
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978-7-04-061096-3 价格： CNY149.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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604页, [49] 页图版 图 (部分彩图) 25cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 高等教育出版社 出版日期： 2024 |
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内容提要:
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本书涵盖作者自20世纪80年代末师从郭可信先生起至近年带领研究团队在有关电子衍射方面所积累的主要实验案例，旨在以“案例”的形式梳理电子显微学及晶体学的基础知识，展示如何通过对材料基础科学问题的再认识从而对经典问题产生新理解，分享发现的乐趣，传授30余载的学术经验。本书主体 (第2-6章) 按晶体的对称性从低到高依次展开，包括单斜、正交、四方、六方、三方、菱方、立方晶系，涉及周期性晶体14种布拉维点阵中的13种点阵类别以及部分准晶体，共40余种物相。第1章和第7章是科学研究中相关历史事件的精彩片段，不但能引起读者对本领域历代先驱者的无限敬仰，也能激发年轻学者投身于基础科学研究、探索自然奥秘的热情和决心。 |
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主题词:
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晶体结构 电子显微镜分析 |
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中图分类法:
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O766 版次： 5 |
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主要责任者:
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马秀良 著 |