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题名:
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片上系统测试设计与优化 / (瑞典) 埃里克·拉森著 , 孙仁杰译 |
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ISBN:
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978-7-03-076918-3 价格： CNY88.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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x, 314页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2024 |
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内容提要:
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本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。<BR>《片上系统测试设计与优化》由三部分组成，在概述经典测试方法的基础上，介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难，并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。 |
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主题词:
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微型计算机 系统测试 |
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中图分类法:
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TP360.21 版次： 5 |
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主要责任者:
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拉森 著 |
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次要责任者:
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孙仁杰 译 |