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题名:
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材料X射线分析技术 / 朱和国 ... [等] 编著 , |
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ISBN:
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978-7-03-075930-6 价格： CNY79.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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292页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2023 |
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内容提要:
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本书介绍晶体学基础与X射线在材料结构、形貌和成分方面的分析技术。其中，结构分析技术包括X射线的物理基础、衍射原理、物相分析、织构分析、小角散射与掠入射衍射分析、位错分析、层错分析、非晶分析、单晶体衍射与取向分析、内应力分析、点阵常数的测量与热处理分析等；形貌分析技术即三维X射线显微成像分析；成分分析技术包括特征X射线能谱、X射线光电子能谱及X射线荧光光谱等。书中研究和测试的材料包括金属材料、无机非金属材料、高分子材料、非晶态材料、金属间化合物、复合材料等。 |
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主题词:
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晶体 X射线衍射分析 |
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中图分类法:
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O721 版次： 5 |
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主要责任者:
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朱和国 编著 |
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主要责任者:
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曾海波 编著 |
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主要责任者:
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兰司 编著 |