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题名:
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瞬时电离辐射效应 / 陈伟[等]著 , |
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ISBN:
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978-7-03-074044-1 价格： CNY180.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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208页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2023 |
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内容提要:
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本书介绍核爆炸辐射环境及其效应、模拟集成电路和大规模数字集成电路的瞬时电离辐射效应、瞬时电离辐射下的脉冲宽度效应、器件级及电路级仿真方法、瞬时辐射感生闩锁和阻锁、瞬时电离辐射效应试验技术、样本空间排序法在电子器件抗瞬时电离辐射性能评估中的应用等内容。 |
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主题词:
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电离辐射 辐射效应 |
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中图分类法:
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O644.2 版次： 5 |
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主要责任者:
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陈伟 著 |
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附注:
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国家科学技术学术著作出版基金资助出版 |
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索书号:
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O644.2/758 |