题名:
|
半导体干法刻蚀技术 / (美) 索斯藤·莱尔著 , 丁扣宝译 |
ISBN:
|
978-7-111-73426-0 价格: CNY119.00 |
语种:
|
chi |
载体形态:
|
XIV, 225页 图 24cm |
出版发行:
|
出版地: 北京 出版社: 机械工业出版社 出版日期: 2023 |
内容提要:
|
本书主要内容有:热刻蚀、热各向同性ALE、自由基刻蚀、定向ALE、反应离子刻蚀、离子束刻蚀等,探讨了尚未从研究转向半导体制造的新兴刻蚀技术,涵盖了定向和各向同性ALE的最新研究和进展。本书以特定的刻蚀应用作为所讨论机制的示例,例如栅极刻蚀、接触孔刻蚀或3D NAND通道孔刻蚀,有助于对所有干法刻蚀技术的原子层次理解。 |
主题词:
|
半导体技术 干法刻蚀 |
中图分类法:
|
TN305.7 版次: 5 |
主要责任者:
|
莱尔 著 |
次要责任者:
|
丁扣宝 译 |
责任者附注:
|
索斯藤·莱尔(Thorsten Lill),博士,美国泛林集团 (Lam Research) 新兴刻蚀技术和系统事业部副总裁。他在德国弗莱堡大学获得物理学博士学位,并在美国阿贡国家实验室进行博士后研究。他在该领域发表了88篇文章,拥有89项专利。 |