|
题名:
|
FPGA芯片设计与测试技术研究 / 张惠国, 顾涵著 , |
|
ISBN:
|
978-7-5672-3899-2 价格： CNY59.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
196页 图 24cm |
|
出版发行:
|
出版地： 苏州 出版社： 苏州大学出版社 出版日期： 2022 |
|
内容提要:
|
本书围绕基于SRAM的FPGA, 基于岛状的架构, 对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计, 并设计了可扩展的FPGA配置电路以及可靠全局信号网络, 同时对FPGA进行了抗辐照改进设计研究。本书详细解析了FPGA内部的逻辑、布线、配置、接口、可靠性设计、测试等方面的知识, 涉及了FPGA芯片涉及的多个方面, 可为从事FPGA芯片设计人员和FPGA应用工程师提供了芯片内部的设计知识, 提升对FPGA器件的设计和应用能力。 |
|
主题词:
|
可编程序逻辑阵列 研究 |
|
中图分类法:
|
TP332.1 版次： 5 |
|
主要责任者:
|
张惠国 著 |
|
主要责任者:
|
顾涵 著 |