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题名:
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LabVIEW与天线测量技术 / 马玉丰[等]编著 , |
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ISBN:
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978-7-5606-6841-3 价格： CNY49.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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256页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 西安 出版社： 西安电子科技大学出版社 出版日期： 2023 |
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内容提要:
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本书共15章，分为三篇。第1章至第10章为基础篇，介绍了LabVIEW的基础知识，包括认识LabVIEW，启动界面、前面板与菜单，数据格式，循环与事件结构，文件I/O，画图与显示，MAX与仪器驱动、接口，VI显示设置与美化，程序代码的保护，生成可执行与安装程序。第11章、第12章为提高篇，给出了天线测试系统采集软件与分析软件的源代码详细解析。第13章至第15章为高级篇，介绍了天线测试系统集成相关知识。本书通过对这三篇内容的讲解，可帮助读者了解天线测试参数与天线测试系统的组成、天线测试系统的工作原理、设计天线测试系统的关键知识，这些都是天线测试系统集成与软件工程师的必备常识。 |
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主题词:
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软件工具 程序设计 |
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主题词:
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微波天线 测量技术 |
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中图分类法:
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TP311.561 版次： 5 |
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中图分类法:
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TN822 版次： 5 |
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主要责任者:
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马玉丰 编著 |