题名:
最优试验设计   / (美) Peter Goos, Bradley Jones著 , 杨贵军 ... [等] 译
ISBN:
978-7-121-43264-4 价格: CNY89.00
语种:
chi
载体形态:
216页 图 26cm
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 电子工业出版社 出版日期: 2022
内容提要:
本著作主要阐述D-最优和I-最优试验设计的应用, 内容主要围绕筛选设计、响应曲面设计、混料设计以及裂区设计来讨论在相应试验情形下的最优设计。 
主题词:
试验设计  
中图分类法:
TB21 版次: 5
主要责任者:
古斯
主要责任者:
琼斯
次要责任者:
杨贵军
次要责任者:
杨雪
责任者附注:
责任者Goos规范汉译姓: 古斯; 责任者Jones规范汉译姓: 琼斯